摘要：本文从G.657光纤宏弯损耗的理论入手，探讨了在G.657光纤宏弯损耗测试过程中，因仪器精度的高低、弯曲位置的不同、操作方法上的差异，对光纤宏弯损耗的影响。

关键词：G.657光纤；宏弯损耗；仪器精度；弯曲位置；操作方法

一、引言

近年来随着接入网光缆的布放和FTTH的迅速发展，因室内和机房狭小的存储空间，使得弯曲半径不断减小，对光纤弯曲损耗的要求也越来越高。因此，就出现了弯曲损耗不敏感光纤以及针对弯曲半径和损耗的新标准。而现阶段在测试过程中，因仪器精度的高低，弯曲位置的不同、操作方法上的差异，都会对宏弯损耗的测试结果产生不同的影响。

二、宏弯损耗的理论、测试方法以及测试标准

宏弯损耗是光纤的曲率半径比光纤直径大的多的弯曲(宏弯)引起的附加损耗，主要原因有：路由转弯和敷设中的弯曲；光纤光缆的各种预留造成的弯曲(预留圈、自然弯曲)；接头盒中光纤的盘留、机房及设备内尾纤的盘绕等。G.657光纤宏弯损耗测试，在邮电标准YD/T 1954-2013^[s]中标准为如表1所示：

测试方法：将被测试光纤松绕在芯轴上，要避免被试光纤过度扭转。而松绕圈数、芯轴直径和被测波长需要参照标准要求选择。光纤宏弯损耗测试方法如下图1所示。

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