摘要：通过对光纤损耗机理的分析，研究了采用VAD合成法设计与制备低损光纤预制棒，通过控制掺杂量来优化预制棒剖面结构，从而改善预制棒剖面结构对光纤损耗的影响，并进一步结合拉丝工艺来制备低损光纤。研究结果表明，在满足ITU-T G.652标准的同时，进一步降低了单模光纤的衰减。

关键词：瑞利散射  VAD  掺杂量  拉丝张力  衰减

一、引言

对于长距离传输系统来说，提升传输距离，意味着系统再生站的减少，从而可以节约大量的建设和维护资金。同时，自100G后，伴随着系统容量的进一步提高，光网络对光纤损耗也提出了更高的要求。目前长距离的传输系统中，铺设最多的是芯层掺锗的单模石英光纤，在1.55um处其典型损耗为0.2dB/km。因此，如何满足未来骨干网的高容量传输需求，已成为光纤光棒行业面临的一大技术难题，而减小光纤的损耗亦成为光纤制造的关键因素。

众所周知，光纤损耗与光纤预制棒制造、光纤拉丝条件以及成缆工艺与施工铺设等有关。本文采用VAD工艺制备光纤预制棒，就如何优化预制棒剖面结构设计和改善拉丝控制工艺两方面来展开讨论，以实现降低光纤损耗的目的。

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